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PCB高频损耗从哪来?3个核心原因先搞懂

  • 2025-08-28 14:25:00
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在 5G 通信、毫米波雷达、卫星导航等高频场景中,很多工程师都会遇到 “PCB 高频损耗” 问题 —— 信号传输到终端时,强度大幅衰减,甚至出现失真,导致设备性能不达标。但很少有人能说清,高频损耗到底从哪来?今天开·云app PCB 就用大白话拆解 PCB 高频损耗的 3 个核心原因,帮你从源头理解问题,为后续改善打下基础。

首先要明确,PCB 高频损耗不是单一因素导致的,而是 “导体损耗”“介质损耗”“辐射损耗” 三者共同作用的结果,只是在不同频率下,三者的占比不同。比如频率低于 1GHz 时,导体损耗和介质损耗是主要因素;频率超过 10GHz(比如毫米波),辐射损耗的影响会显著增加。

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第一个核心原因:导体损耗 —— 电流 “挤在表面” 导致的能量浪费
导体损耗主要来自 PCB 中的铜箔线路,很多人以为电流会均匀流过铜箔横截面,但在高频场景下,会出现 “趋肤效应”—— 电流会集中在铜箔表面的极薄一层(趋肤深度),横截面内部的电流极少。比如 1GHz 频率下,铜的趋肤深度只有 2.09μm,也就是说,电流主要集中在铜箔表面 2μm 的范围内,其余部分几乎没有电流通过。
这种现象会导致两个问题:一是 “等效电阻增大”,电流集中在表面,相当于导体的有效截面积变小,电阻自然变大,电流流过时会产生更多热量,造成能量损耗;二是 “表面粗糙度影响加剧”,如果铜箔表面不平整(有凸起、凹陷),电流在表面流动时会 “绕路”,进一步增加电阻和损耗。比如普通电解铜箔的表面粗糙度约为 1.5-3μm,在 10GHz 频率下,导体损耗会比光滑铜箔增加 30% 以上。

此外,铜箔的厚度也会影响导体损耗。如果铜箔厚度小于趋肤深度的 2-3 倍,电流可能会 “穿透” 铜箔,导致电阻进一步增大。比如在 28GHz 毫米波场景下,铜的趋肤深度只有 0.8μm,若使用厚度 1μm 的铜箔,导体损耗会明显高于 2μm 铜箔。



第二个核心原因:介质损耗 —— 基材 “吸收信号” 导致的能量流失
介质损耗来自 PCB 的基材(比如 FR-4),高频信号在基材中传输时,会引发基材内部分子的极化运动,这种运动需要消耗能量,导致信号能量被基材吸收,也就是 “介质损耗”。
衡量介质损耗的关键指标是 “介质损耗角正切(tanδ)”,tanδ 值越小,介质损耗越低。比如普通 FR-4 基材的 tanδ 值约为 0.02(1GHz),而高频专用基材(如 PTFE、PPO)的 tanδ 值可低至 0.001-0.003。在高频场景下,基材 tanδ 值的微小差异会导致损耗的巨大差距:比如 10GHz 频率下,用普通 FR-4 基材的 PCB,介质损耗可能是高频专用基材的 5-10 倍。

除了 tanδ 值,基材的 “介电常数(Dk)” 也会间接影响损耗。Dk 值越大,信号在基材中的传输速度越慢,且容易出现信号色散(不同频率成分的信号传输速度不同),间接增加损耗。比如普通 FR-4 的 Dk 值约为 4.5(1GHz),而高频基材的 Dk 值可控制在 2.2-3.0,能有效减少信号色散和损耗。



第三个核心原因:辐射损耗 —— 信号 “跑出去” 导致的能量浪费
辐射损耗是指高频信号在传输过程中,部分能量以电磁波的形式辐射到空气中,不再沿着线路传输,造成能量流失。这种损耗在高频场景下尤为明显,尤其是当 PCB 线路设计不合理时。
比如 “线路不连续” 会导致辐射损耗:当信号从宽线路突然变窄,或线路出现拐角(90° 直角),信号会在不连续处产生反射和辐射;“间距过小” 也会导致辐射损耗:相邻线路间距小于 3 倍线宽时,会产生 “串扰”,部分信号能量会辐射到相邻线路,同时自身也会因干扰产生额外损耗;此外,PCB 板边缘的 “天线效应” 也会加剧辐射损耗 —— 线路靠近板边时,容易像天线一样向外辐射信号能量。

比如在 5G 基站的 PCB 设计中,如果射频线路有 90° 拐角,且与其他线路间距过小,辐射损耗可能会增加 20%-30%,导致基站的信号覆盖范围缩小。

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搞懂这 3 个核心原因,就能针对性地制定改善方案:减少导体损耗可选择光滑铜箔、增加铜厚;降低介质损耗可选用高频专用基材;控制辐射损耗则需要优化线路设计。不同场景下,三者的改善优先级不同,比如毫米波场景需优先控制辐射损耗,而 5G 中频段则需重点改善介质损耗和导体损耗。


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